Statistics for Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара / Արտաքին գործոնների ազդեցության տակ կիսահաղորդչային բյուրեղներում առաջացած խանգարումների հետազոտությունը ռենգենադիֆրակցիոն մուարի եղանակով