Statistics for Արդյունավետ մեթոդների և դրանք իրականացնող ծրագրային համակարգի մշակում նանոչափական հիշող սարքերում անսարքությունների մոդելավորման և թեստային ալգորիթմների կառուցման համար / Development of efficient methods and software system for fault modeling and test algorithm construction in nano-scale memory devices