Statistics for Բյուրեղի վրա սխալների առկայությամբ հիշող հանգույցների ներկառուցված թեստավորման գործընթացը մոդելավորող ծրագրային գործիքի հիմնավորում և մշակում / Justification and development of a software tool modeling fault inclusive silicon built-in test flow for embedded memory components