Электрофизический и шумовые характеристики кремниевых структур со слоем пористого кремния / Էլեկտրաֆիզիկական և աղմուկային բնութագրերը սիլիցիումային կառուցվածքներում, որոնք պարունակում են ծակոտկեն սիլիցիումի շերտ

Abstract

Современные достижения в технологии изготовления полупроводниковых приборов обеспечили создание новых наноструктур, к которым относятся и некоторые структуры со слоем PS / Նախագածվել և պատրաստվել է ժամանակակից միկրոսխեմաների հիման վրա չափման սարքավորում, որը հնարավորություն է տալիս չափել կիսահաղորդիչ-գազ և կիսահաղորդիչ-էլեկտրոյիտ համակարգերի ցածր հաճախային աղմուկների սպեկտրները 0,1=10kHz տիրույթում