Արդյունավետ ալգորիթմներ ստատիկ նանոմետրանոց հիշող սարքերի թեստավորման համար / Efficient algorithms for testing Nanoscale SRAMs
Արդյունավետ ալգորիթմներ ստատիկ նանոմետրանոց հիշող սարքերի թեստավորման համար / Efficient algorithms for testing Nanoscale SRAMs
No Thumbnail Available
Date
2008
Authors
Հարությունյան, Գուրգեն Էդիկի / Harutyunyan Gurgen
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԳԱԱ ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ
Abstract
Աշխատանքի նպատակն է ստեղծել ծրագրային գործիք, որը թույլ կտա կառուցել արդյյունավետ թեստային ալգորիթմներ ստատիկ նանոմետրանոց հիշող սարքերի թեստավորման համար / Работа посвящена разработке средств построения минимальных алгоритмов тестирования нанометровых устройств статической памяти
Description
Ե.13.04 «Հաշվողական մեքենաների, համալիրների, համակարգերի և ցանցերի մաթեմատիկական և ծրագրային ապահովում» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2008 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Վ. Ա. Վարդանյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Ա. Թ. Քուչուկյան, Ի. Բ. Մկրտումյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան ; Սեղմագիր՝ 18 էջ։
Keywords
Ինֆորմատիկա և համակարգչային համակարգեր / Informatics & Computer Systems