Բարակ մագնիսական թաղանթների և օրգանական թաղանթե կիսահաղորդիչների հետազոտումը մոտակա դաշտի միկրոալիքային մանրադիտակի միջոցով / Study of thin magnetic films and thin film organic semiconductors by using near-field microwave microscope
Բարակ մագնիսական թաղանթների և օրգանական թաղանթե կիսահաղորդիչների հետազոտումը մոտակա դաշտի միկրոալիքային մանրադիտակի միջոցով / Study of thin magnetic films and thin film organic semiconductors by using near-field microwave microscope
No Thumbnail Available
Date
2011
Authors
Սարգսյան, Տիգրան Աշոտի / Sargsyan Tigran
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԿԳՆ Երևանի պետական համալսարան
Abstract
ժամանակակից գիտության մեջ նյութերի ֆիզիկական և քիմիական հատկությունների միկրո, նանո և ատոմական կարգի հեռավորությունների վրա ուսումնասիրություններն անհնար է առանց ժամանակակից և հուսալի սարքավորումների / Исследования локальных электродинамических, структурных и морфологических свойств исследуемых образцов стали возможны после создания нового типа зондовых микроскопов / Progress in modern science is impossible without reliable tools for characterization of structural, physical, and chemical properties of materials and devices at the micro-, nano-, and atomic scale levels
Description
Ա.04.03 «Ռադիոֆիզիկա» մասնագիտությամբ ֆիզիկամաթեմատիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2011 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ա. Ա. Հախումյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Վ. Հ. Ավետիսյան, Ա. Գ. Ղուլյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ Հայ-ռուսական (Սլավոնական) համալսարան ; Սեղմագիր՝ 21 էջ։
Keywords
Ֆիզիկամաթեմատիկական գիտություններ / Mathematics & Physics