Բարակ մագնիսական թաղանթների և օրգանական թաղանթե կիսահաղորդիչների հետազոտումը մոտակա դաշտի միկրոալիքային մանրադիտակի միջոցով / Study of thin magnetic films and thin film organic semiconductors by using near-field microwave microscope
Բարակ մագնիսական թաղանթների և օրգանական թաղանթե կիսահաղորդիչների հետազոտումը մոտակա դաշտի միկրոալիքային մանրադիտակի միջոցով / Study of thin magnetic films and thin film organic semiconductors by using near-field microwave microscope
dc.contributor.author | Սարգսյան, Տիգրան Աշոտի / Sargsyan Tigran | |
dc.date.accessioned | 2023-03-21T09:53:25Z | |
dc.date.available | 2023-03-21T09:53:25Z | |
dc.date.issued | 2011 | |
dc.description | Ա.04.03 «Ռադիոֆիզիկա» մասնագիտությամբ ֆիզիկամաթեմատիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2011 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ա. Ա. Հախումյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Վ. Հ. Ավետիսյան, Ա. Գ. Ղուլյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ Հայ-ռուսական (Սլավոնական) համալսարան ; Սեղմագիր՝ 21 էջ։ | |
dc.description.abstract | ժամանակակից գիտության մեջ նյութերի ֆիզիկական և քիմիական հատկությունների միկրո, նանո և ատոմական կարգի հեռավորությունների վրա ուսումնասիրություններն անհնար է առանց ժամանակակից և հուսալի սարքավորումների / Исследования локальных электродинамических, структурных и морфологических свойств исследуемых образцов стали возможны после создания нового типа зондовых микроскопов / Progress in modern science is impossible without reliable tools for characterization of structural, physical, and chemical properties of materials and devices at the micro-, nano-, and atomic scale levels | |
dc.identifier.uri | http://dspace.nla.am/handle/123456789/2433 | |
dc.language.iso | arm | |
dc.pages | Սեղմագիր՝ 21 էջ | |
dc.publication.place | Երևան | |
dc.publisher | ՀՀ ԿԳՆ Երևանի պետական համալսարան | |
dc.subject | Ֆիզիկամաթեմատիկական գիտություններ / Mathematics & Physics | |
dc.title | Բարակ մագնիսական թաղանթների և օրգանական թաղանթե կիսահաղորդիչների հետազոտումը մոտակա դաշտի միկրոալիքային մանրադիտակի միջոցով / Study of thin magnetic films and thin film organic semiconductors by using near-field microwave microscope | |
dc.type | Abstract | |
eperson.lastname | LS |