Արդյունավետ մեթոդների և դրանք իրականացնող ծրագրային համակարգի մշակում նանոչափական հիշող սարքերում անսարքությունների մոդելավորման և թեստային ալգորիթմների կառուցման համար / Development of efficient methods and software system for fault modeling and test algorithm construction in nano-scale memory devices
Արդյունավետ մեթոդների և դրանք իրականացնող ծրագրային համակարգի մշակում նանոչափական հիշող սարքերում անսարքությունների մոդելավորման և թեստային ալգորիթմների կառուցման համար / Development of efficient methods and software system for fault modeling and test algorithm construction in nano-scale memory devices
No Thumbnail Available
Date
2019
Authors
Ճաղարյան, Գրիգոր Արշակի / Tshagharyan Grigor
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԳԱԱ ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ
Abstract
Գորդոն Մուռը դեռևս քսաներորդ դարի 60-ական թվականներին կանխատեսել էր,
որ տրանզիստորների քանակը ինտեգրալ սխեմաներում կրկնապատկվելու է
յուրաքանչյուր 18 ամիսը մեկ / For many years planar MOSFET was the prevailing transistor technology for the
construction of memory devices / На протяжении многих лет плоский MOSFET был преобладающей транзисторной
технологией для производства устройств памяти
Description
Ե.13.04 «Հաշվողական մեքենաների, համալիրների, համակարգերի և ցանցերի
մաթեմատիկական և ծրագրային ապահովում» մասնագիտությամբ
տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի
հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2019 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Գ. է. Հարությունյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Հ. Հ. Հարությունյան, Ա. Հ. Կոստանյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝
Երևանի մաթեմատիկական մեքենաների գիտահետազոտական ինստիտուտ ; Սեղմագիր՝ 22 էջ։
Keywords
Ինֆորմատիկա և համակարգչային համակարգեր / Informatics & Computer Systems