Արդյունավետ մեթոդների և դրանք իրականացնող ծրագրային համակարգի մշակում նանոչափական հիշող սարքերում անսարքությունների մոդելավորման և թեստային ալգորիթմների կառուցման համար / Development of efficient methods and software system for fault modeling and test algorithm construction in nano-scale memory devices
Արդյունավետ մեթոդների և դրանք իրականացնող ծրագրային համակարգի մշակում նանոչափական հիշող սարքերում անսարքությունների մոդելավորման և թեստային ալգորիթմների կառուցման համար / Development of efficient methods and software system for fault modeling and test algorithm construction in nano-scale memory devices
dc.contributor.author | Ճաղարյան, Գրիգոր Արշակի / Tshagharyan Grigor | |
dc.date.accessioned | 2023-02-09T13:12:20Z | |
dc.date.available | 2023-02-09T13:12:20Z | |
dc.date.issued | 2019 | |
dc.description | Ե.13.04 «Հաշվողական մեքենաների, համալիրների, համակարգերի և ցանցերի մաթեմատիկական և ծրագրային ապահովում» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2019 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Գ. է. Հարությունյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Հ. Հ. Հարությունյան, Ա. Հ. Կոստանյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ Երևանի մաթեմատիկական մեքենաների գիտահետազոտական ինստիտուտ ; Սեղմագիր՝ 22 էջ։ | |
dc.description.abstract | Գորդոն Մուռը դեռևս քսաներորդ դարի 60-ական թվականներին կանխատեսել էր, որ տրանզիստորների քանակը ինտեգրալ սխեմաներում կրկնապատկվելու է յուրաքանչյուր 18 ամիսը մեկ / For many years planar MOSFET was the prevailing transistor technology for the construction of memory devices / На протяжении многих лет плоский MOSFET был преобладающей транзисторной технологией для производства устройств памяти | |
dc.identifier.uri | http://dspace.nla.am/handle/123456789/1187 | |
dc.language.iso | arm | |
dc.pages | Սեղմագիր՝ 22 էջ | |
dc.publication.place | Երևան | |
dc.publisher | ՀՀ ԳԱԱ ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ | |
dc.subject | Ինֆորմատիկա և համակարգչային համակարգեր / Informatics & Computer Systems | |
dc.title | Արդյունավետ մեթոդների և դրանք իրականացնող ծրագրային համակարգի մշակում նանոչափական հիշող սարքերում անսարքությունների մոդելավորման և թեստային ալգորիթմների կառուցման համար / Development of efficient methods and software system for fault modeling and test algorithm construction in nano-scale memory devices | |
dc.type | Abstract | |
eperson.lastname | KT |