Разработка средств проверки правил электромиграции в сверхбольших интегральныхcxemax / Գերմեծ ինտեգրալ սխեմաներում էլեկտրամիգրացիայի կանոնների ստուգման միջոցների մշակում

No Thumbnail Available
Date
2006
Authors
Ֆանյան, Կարեն Ալեքսանդրի / Fanyan Karen
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան
Abstract
В настоящее время для широко используемых устройств со сверхбольшими интегральными схемами (СБИС) одной из основных причин неполадок является преждевременный выход из строя самой СБИС, что приводит к финансовым, a в некоторых случаях - к более существенным потерям / Ուսումնասիրվել են էլեկտրամիգրացիա երևույթը, դրա հետևանքով գերմեծ ինտեգրալ սխեմաների (ԳՄԻՍ) խափանման պատճառները, ԳՄԻՍ-ների նախագծման գործընթացում էլեկտրամիգրացիայի կանոնների խախտումների հայտնաբերման համար առկա լավագույն միջոցները և դրանց թերությունները
Description
Ե.27.01 «Պինդմարմնային էլեկտրոնիկա, ռադիոէլեկտրոնային բաղադրամասեր, միկրոէլեկտրոնիկա» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2006 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Վ. Շ. Մելիքյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Վ. Վ. Բունիաթյան, Ֆ. Վ. Գասպարյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Տրանզիստոր+» ՍՊԸ ; Սեղմագիր՝ 19 էջ։
Keywords
Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology
Citation