Некоторые вопросы фокусировки рентгеновского излучения в кристаллах при внешних воздействиях / Բյուրեղներում արտաքին ազդակների առկայությամբ ռենտգենյան փնջերի ֆոկուսացման որոշ հարցեր / Some questions of X-ray focusing in crystals in the presence of external influences

Abstract

Развитие более чувствительных и универсальных методов исследования реальных структур совершенных кристаллов и наносистем, экспресс анализ структуры вещества, томографии биологических объектов, прикладных применений в медицине, рентгенодиагностики и рентгенотерапии является весьма актуальной задачей / Ատենախոսությունը նվիրված է կատարյալ միաբյուրեղներում արտաքին ազդակների (ակուստիկական ալիքներ և ջերմաստիճանային գրադիենտ) առկայության պայմաններում կոշտ ռենտգենյան ճառագայթման պարամետրերի տարածաժամանակային կառավարմանը / The acquiring and the use of basic elements and intensive sources of short wave X-ray “optics” with controllable working parameters (energy, intensity, focus distance, etc.) are very actual especially in structural research of perfect crystals and nanosystems, in quick diagnostics of structure of matter, X-ray tomography, therapy, spectroscopy, X-ray microscopy and in other areas