Разработка и исследование средств, воспроизводящих статистическое поведение цифровых интегральных схем / Թվային ինտեգրալ սխեմաների վիճակագրական վարքը վերարտադրող միջոցների մշակումը և հետազոտումը / Statistical behavior reproducing method of digital integrated circuits
Разработка и исследование средств, воспроизводящих статистическое поведение цифровых интегральных схем / Թվային ինտեգրալ սխեմաների վիճակագրական վարքը վերարտադրող միջոցների մշակումը և հետազոտումը / Statistical behavior reproducing method of digital integrated circuits
No Thumbnail Available
Date
2014
Authors
Սլոյան, Կարեն Պետրոսի / Sloyan Karen
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԿԳՆ Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան (Պոլիտեխնիկ)
Abstract
Постоянное уменьшение геометрических размеров
элементов полупроводниковых интегральных схем (ИС) приводит к большим
сложностям проектирования цифровых ИС / Ինտեգրալ սխեմաների զարգացումը միտված է դրանց պատրաստման
տեխնոլոգիական չափերի, կիսահաղորդչային բյուրեղի մակերեսի և սպառվող
հզորության փոքրացմանը / The development of IC tends to shrink their technological dimensions, the area of
semiconductor crystal and consuming power
Description
Ե.27.01 «Էլեկտրոնիկա, միկրո և նանոէլեկտրոնիկա» մասնագիտությամբ
տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի
հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2014 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Վ. Շ. Մելիքյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Ս. Խ. Խուդավերդյան, Խ. Գ. Շարոյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ ՀՀ ԳԱԱ ռադիոֆիզիկայի և էլեկտրոնիկայի
ինստիտուտ ; Սեղմագիր՝ 22 էջ։
Keywords
Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology