Բարակ մագնիսական թաղանթների և օրգանական թաղանթե կիսահաղորդիչների հետազոտումը մոտակա դաշտի միկրոալիքային մանրադիտակի միջոցով / Study of thin magnetic films and thin film organic semiconductors by using near-field microwave microscope

Abstract

ժամանակակից գիտության մեջ նյութերի ֆիզիկական և քիմիական հատկությունների միկրո, նանո և ատոմական կարգի հեռավորությունների վրա ուսումնասիրություններն անհնար է առանց ժամանակակից և հուսալի սարքավորումների / Исследования локальных электродинамических, структурных и морфологических свойств исследуемых образцов стали возможны после создания нового типа зондовых микроскопов / Progress in modern science is impossible without reliable tools for characterization of structural, physical, and chemical properties of materials and devices at the micro-, nano-, and atomic scale levels