Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self-test solutions in nanoscale soc / Նանոչափական բյուրեղի վրա տեղադրված համակարգերի թեստավորման լուծումների որակի հավաստման արդյունավետությունը բարձրացնող գործիքների մշակումը / Разработка средств повышения эффективности обеспечения качества решений систем тестирования. встроенных в наноразмерном кристалле
Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self-test solutions in nanoscale soc / Նանոչափական բյուրեղի վրա տեղադրված համակարգերի թեստավորման լուծումների որակի հավաստման արդյունավետությունը բարձրացնող գործիքների մշակումը / Разработка средств повышения эффективности обеспечения качества решений систем тестирования. встроенных в наноразмерном кристалле
No Thumbnail Available
Date
2024
Authors
Բաբայան, Արմեն Վրեժի / Babayan Armen
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԿԳՄՍՆ Հայաստանի ազգային պոլիտեխնիկական համալսարան
Abstract
Increasing of the manufacturing yield continues to be one of the most important problems in semiconductor production / Օրեցօր զարգացող ինտեգրալ սխեմաներին (ԻՍ) ներկայացվում են նոր
մարտահրավերներ, որոնց հաղթահարման համար մշակվում են նոր մոտեցումներ / С течением времени разработчики интегральных схем (ИС) сталкиваются с новыми проблемами, и для их преодоления разрабатываются новые подходы
Description
Ե.27.01 «Էլեկտրոնիկա, միկրո և նանոէլեկտրոնիկա» մասնագիտությամբ
տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման
ատենախոսություն ; Երևան-2024 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի ազգային պոլիտեխնիկական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ս. Կ. Շուքուրյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Օ. Հ. Պետրոսյան, Ա. Ս. Տրդատյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ Երևանի կապի միջոցների գիտահետազոտական ինստիտուտ ; Սեղմագիր՝ 24 էջ։
Keywords
Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology