Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self-test solutions in nanoscale soc / Նանոչափական բյուրեղի վրա տեղադրված համակարգերի թեստավորման լուծումների որակի հավաստման արդյունավետությունը բարձրացնող գործիքների մշակումը / Разработка средств повышения эффективности обеспечения качества решений систем тестирования. встроенных в наноразмерном кристалле

Abstract

Increasing of the manufacturing yield continues to be one of the most important problems in semiconductor production / Օրեցօր զարգացող ինտեգրալ սխեմաներին (ԻՍ) ներկայացվում են նոր մարտահրավերներ, որոնց հաղթահարման համար մշակվում են նոր մոտեցումներ / С течением времени разработчики интегральных схем (ИС) сталкиваются с новыми проблемами, и для их преодоления разрабатываются новые подходы