Ինտեգրալ սխեմաների մուտք/ելք հանգույցների սահմանային դիմադրությունների արժեքների ճշգրտման միջոցների մշակում և հետազոտում / Development and research of self-calibration method of integrated circuit for input/output devices termination resistance variation elimination

Simple item page
dc.contributor.authorԱլեքսանյան, Անի Լենսերի / Aleksanyan Ani
dc.date.accessioned2022-12-16T17:20:36Z
dc.date.available2022-12-16T17:20:36Z
dc.date.issued2016
dc.descriptionԵ.27.01 «Էլէկտրոնիկա, միկրո և նանոէլեկտրոնիկա» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2016 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Վ. Շ. Մելիքյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Օ. Հ. Պետրոսյան, Գ. Ե. Այվազյան ; Առաջատար կազմակերպություն` ՀՀ ԳԱԱ ռադիոֆիզիկայի և էլեկտրոնիկայի ինստիտուտ ; Ատենախոսություն՝ 161 էջ, սեղմագիր՝ 22 էջ։
dc.description.abstractԻնտեգրալ սխեմաների (ԻՍ) բաղադրիչների չափերի մասշտաբավորման (սերիական արտադրությունում են ԻՍ-եր, որոնցում կոմպլեմենտար մետաղ օքսիդ-կիսահաղորդիչ (ԿՄՕԿ) սխեմաների տրանզիստորների հոսքուղու երկարությունը հասնում է ընդհուպ մինչև 7նմ և շարունակում է նվազել (FinFET եռաչափ տրանզիստորներ)) և արագագործության աճին զուգընթաց տեխնոլոգիապես ավելի բարդանում է դրանց պարամետրերի ճշտության ապահովումը / Параллельно с ростом масштабирования размеров и быстродействия компонентов интегральных схем (ИС) (в серийных производствах существуют ИС, в которых длина канала транзисторов в схемах комплементарных металл-оксид-полупроводников (КМОП) достигает 7 нм и продолжает уменьшаться (FinFET трехмерные транзисторы)) и одновременно с увеличением скорости технологически становится более сложным обеспечение точности параметров при производстве ИС / With continuous shrinking of technology integrated circuit (IC) component technology sizes(transistor channel length of modern complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) has become 7ոm and continues to decrease (Fin Field transistor - FinFET)), the production of integrated circuits (IC) and parameter accuracy, become technologically more complicated
dc.identifier.urihttp://dspace.nla.am/handle/123456789/779
dc.language.isoarm
dc.pagesԱտենախոսություն՝ 161 էջ, սեղմագիր՝ 22 էջ
dc.publication.placeԵրևան
dc.publisherՀՀ ԿԳՆ Հայաստանի ազգային պոլիտեխնիկական համալսարան
dc.subjectՏեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology
dc.titleԻնտեգրալ սխեմաների մուտք/ելք հանգույցների սահմանային դիմադրությունների արժեքների ճշգրտման միջոցների մշակում և հետազոտում / Development and research of self-calibration method of integrated circuit for input/output devices termination resistance variation elimination
dc.typeThesis
dc.typeAbstract
eperson.lastnameSK
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
No Thumbnail Available
Name:
dis5126_aleksanyan.pdf
Size:
23.81 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
No Thumbnail Available
Name:
abs5126_aleksanyan_ocr.pdf
Size:
1.19 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed to upon submission
Description:
Download
Collections
Ատենախոսություններ և սեղմագրեր / Theses & Abstracts