Исследование и разработка методов контроля параметров полупроводниковых структур в магнитном поле / Մագնիսական դաշտում կիսահաղորդչային կառուցվածքների պարամետրերի հսկման մեթոդների հետազոտումը և մշակումը
Loading...
Date
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան
Abstract
В современной микроэлектронике широко применяются полупроводниковые материалы и многослойные структуры, на основе которых изготавливаются различные полупроводниковые приборы и микросхемы / Աշխատանքը նվիրված է մագնիսական դաշտում կիսահաղորդչային կառուցվածքների պարամետրերի հսկման չքայքայող մեթոդների հետազոտմանը և մշակմանը
Description
Ե.27.01 «Պինդմարմնային էլեկտրոնիկա և միկրոէլեկտրոնիկա» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2002 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական հաստատվել է համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ռ. Ռ. Վարդանյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Ֆ. Վ. Գասպարյան, Գ. Ե. Այվազյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Կերմետ» Փբը ; Սեղմագիր՝ 22 էջ։