Разработка средств регрессионного тестирования систем автоматизированного проектирования электронных схем / Էլեկտրոնային սխեմաների ավտոմատացված նախագծման համակարգերի ռեգրեսիոն թեստավորման միջոցների մշակումը / Regression testing of automated systems of electronic circuits

Abstract

Развитие микроэлектронных технологий приводит к стремительному росту интеграции интегральных схем (ИС), что диктует необходимость создания устранять с большими функциональными возможностями и меньшими размерами / Ժամանակակից միկրոէլեկտրոնային սարքերի դինամիկ զարգացման պայմաններում անհրաժեշտություն է առաջանում՝ անընդհատ կատարելագործելու դրանց թեստավորման միջոցները / With the dynamic development of modern microelectronic devices, there is a need of a constant improvement in their testing methods