Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորումը տեսանելիացման գործիքներով
Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորումը տեսանելիացման գործիքներով
No Thumbnail Available
Date
2001
Authors
Մելքոնյան, Դավիթ Կարապետի / Melkonyan Davit
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԿԳՆ Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան
Abstract
В настоящее время проектирование
электронных-интегральных схем (ИС) невозможно без применения
соответствующих систем автоматизированного проектирования
технологических процессов (САПРТП) / Ատենախոսությունը նվիրված է կիսահաղորդչային ինտեգրալ
միկրոսխեմաների արտադրության գործընթացներում պարամետրերի արագ
թեսթավորում իրականացնելու խնդիրներին ու նրա սխեմատեխնիկական
իրականացման ուղիներին
Description
Ե.27.01 «Պինդմարմնային էլեկտրոնիկա, ռադիոէլեկտրոնային
բաղադրամասեր, միկրոէլեկտրոնիկա» և Ե.11.16 «Ինֆորմացիոն-չափիչ համակարգեր» մասնագիտություններով
տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման
ատենախոսություն ; Երևան-2004 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ս. Հ. Մկրտչյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Ռ. Ռ. Վարդանյան, Ռ. Ի. Գրիգորյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Վիասֆեր» ՓԲԸ ; Սեղմագիր՝ 24 էջ։
Keywords
Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology