Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորումը տեսանելիացման գործիքներով
Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորումը տեսանելիացման գործիքներով
| dc.contributor.author | Մելքոնյան, Դավիթ Կարապետի / Melkonyan Davit | |
| dc.date.accessioned | 2024-08-26T06:22:51Z | |
| dc.date.available | 2024-08-26T06:22:51Z | |
| dc.date.issued | 2001 | |
| dc.description | Ե.27.01 «Պինդմարմնային էլեկտրոնիկա, ռադիոէլեկտրոնային բաղադրամասեր, միկրոէլեկտրոնիկա» և Ե.11.16 «Ինֆորմացիոն-չափիչ համակարգեր» մասնագիտություններով տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2004 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ս. Հ. Մկրտչյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Ռ. Ռ. Վարդանյան, Ռ. Ի. Գրիգորյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Վիասֆեր» ՓԲԸ ; Սեղմագիր՝ 24 էջ։ | |
| dc.description.abstract | В настоящее время проектирование электронных-интегральных схем (ИС) невозможно без применения соответствующих систем автоматизированного проектирования технологических процессов (САПРТП) / Ատենախոսությունը նվիրված է կիսահաղորդչային ինտեգրալ միկրոսխեմաների արտադրության գործընթացներում պարամետրերի արագ թեսթավորում իրականացնելու խնդիրներին ու նրա սխեմատեխնիկական իրականացման ուղիներին | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nla.am/handle/123456789/11675 | |
| dc.language.iso | rus | |
| dc.pages | Սեղմագիր՝ 24 էջ | |
| dc.publication.place | Երևան | |
| dc.publisher | ՀՀ ԿԳՆ Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան | |
| dc.subject | Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology | |
| dc.title | Тестирование технологических показателей кремниевых микросхем инструментами визуализации / Սիլիցիումային միկրոսխեմաների տեխնոլոգիական ցուցանիշների թեսթավորումը տեսանելիացման գործիքներով | |
| dc.type | Abstract | |
| eperson.lastname | KT |