Электрофизический и шумовые характеристики кремниевых структур со слоем пористого кремния / Էլեկտրաֆիզիկական և աղմուկային բնութագրերը սիլիցիումային կառուցվածքներում, որոնք պարունակում են ծակոտկեն սիլիցիումի շերտ
Электрофизический и шумовые характеристики кремниевых структур со слоем пористого кремния / Էլեկտրաֆիզիկական և աղմուկային բնութագրերը սիլիցիումային կառուցվածքներում, որոնք պարունակում են ծակոտկեն սիլիցիումի շերտ
| dc.contributor.author | Շատվերյան, Արկադի Ալեքսանդրի / Shatveryan Arkadi | |
| dc.date.accessioned | 2024-04-16T07:09:37Z | |
| dc.date.available | 2024-04-16T07:09:37Z | |
| dc.date.issued | 2006 | |
| dc.description | Ա.04.10 «Կիսահաղորդիչների ֆիզիկա» մասնագիտությամբ ֆիզիկամաթեմատիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2006 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Վ. Մ. Հարությունյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Յ. Ա. Աբրահամյան, Վ. Վ. Բունիաթյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Տրանզիստոր +» ՍՊԸ ; Սեղմագիր՝ 20 էջ։ | |
| dc.description.abstract | Современные достижения в технологии изготовления полупроводниковых приборов обеспечили создание новых наноструктур, к которым относятся и некоторые структуры со слоем PS / Նախագածվել և պատրաստվել է ժամանակակից միկրոսխեմաների հիման վրա չափման սարքավորում, որը հնարավորություն է տալիս չափել կիսահաղորդիչ-գազ և կիսահաղորդիչ-էլեկտրոյիտ համակարգերի ցածր հաճախային աղմուկների սպեկտրները 0,1=10kHz տիրույթում | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nla.am/handle/123456789/10043 | |
| dc.language.iso | rus | |
| dc.pages | Սեղմագիր՝ 20 էջ | |
| dc.publication.place | Երևան | |
| dc.publisher | ՀՀ ԿԳՆ Երևանի պետական համալսարան | |
| dc.subject | Ֆիզիկամաթեմատիկական գիտություններ / Mathematics & Physics | |
| dc.title | Электрофизический и шумовые характеристики кремниевых структур со слоем пористого кремния / Էլեկտրաֆիզիկական և աղմուկային բնութագրերը սիլիցիումային կառուցվածքներում, որոնք պարունակում են ծակոտկեն սիլիցիումի շերտ | |
| dc.type | Abstract | |
| eperson.lastname | KT |