Электрофизический и шумовые характеристики кремниевых структур со слоем пористого кремния / Էլեկտրաֆիզիկական և աղմուկային բնութագրերը սիլիցիումային կառուցվածքներում, որոնք պարունակում են ծակոտկեն սիլիցիումի շերտ
Электрофизический и шумовые характеристики кремниевых структур со слоем пористого кремния / Էլեկտրաֆիզիկական և աղմուկային բնութագրերը սիլիցիումային կառուցվածքներում, որոնք պարունակում են ծակոտկեն սիլիցիումի շերտ
No Thumbnail Available
Date
2006
Authors
Շատվերյան, Արկադի Ալեքսանդրի / Shatveryan Arkadi
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԿԳՆ Երևանի պետական համալսարան
Abstract
Современные достижения в технологии изготовления
полупроводниковых приборов обеспечили создание новых наноструктур, к которым
относятся и некоторые структуры со слоем PS / Նախագածվել և պատրաստվել է ժամանակակից միկրոսխեմաների
հիման վրա չափման սարքավորում, որը հնարավորություն է տալիս
չափել կիսահաղորդիչ-գազ և կիսահաղորդիչ-էլեկտրոյիտ
համակարգերի ցածր հաճախային աղմուկների սպեկտրները 0,1=10kHz
տիրույթում
Description
Ա.04.10 «Կիսահաղորդիչների ֆիզիկա» մասնագիտությամբ
ֆիզիկամաթեմատիկական գիտությունների
թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2006 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևևանի պետական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Վ. Մ. Հարությունյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Յ. Ա. Աբրահամյան, Վ. Վ. Բունիաթյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Տրանզիստոր +» ՍՊԸ ; Սեղմագիր՝ 20 էջ։
Keywords
Ֆիզիկամաթեմատիկական գիտություններ / Mathematics & Physics