Built-in test solutions for nanoscale memory devices and systems / Ներկառուցված թեստային լուծումներ նանոչափական հիշող սարքերի և համակարգերի համար

Abstract

The thesis is dedicated to development and its software and hardware implementation of a new unified methodology for fault modeling and test algorithm construction which led to essential progress in area of testing of nanoscale memory devices and systems /Նանոչափական հիշող սարքերի չափերի աննախադեպ փոքրացումը բերում է նախագծման էական բարդությունների, և դրան զուգընթաց էական առաջխաղացում են ապրում ներդրված թեստավորման և նորոգման լուծումներին ներկայացվող պահանջները նանոչափական բյուրեղների (չիպերի) բարձր արտադրողականություն և որակ ապահովելու համար / Диссертация посвящена разработке и програмно-аппаратной реализации новой унифицированной методологии моделирования неисправностей и построения тестовых алгоритмов, что привело к значительному прогрессу в области тестирования наномерных устройств и систем памяти на кристалле