Built-in test solutions for nanoscale memory devices and systems / Ներկառուցված թեստային լուծումներ նանոչափական հիշող սարքերի և համակարգերի համար
Built-in test solutions for nanoscale memory devices and systems / Ներկառուցված թեստային լուծումներ նանոչափական հիշող սարքերի և համակարգերի համար
No Thumbnail Available
Date
2018
Authors
Հարությունյան, Գուրգեն Էդիկի / Harutyunyan Gurgen
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
ՀՀ ԳԱԱ ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ
Abstract
The thesis is dedicated to development and its software and hardware implementation of a new unified methodology for fault modeling and test algorithm construction which led to essential progress in area of testing of nanoscale memory devices and systems /Նանոչափական հիշող սարքերի չափերի աննախադեպ փոքրացումը բերում է նախագծման էական բարդությունների, և դրան զուգընթաց էական առաջխաղացում են ապրում ներդրված թեստավորման և նորոգման լուծումներին ներկայացվող պահանջները նանոչափական բյուրեղների (չիպերի) բարձր արտադրողականություն և որակ ապահովելու համար / Диссертация посвящена разработке и програмно-аппаратной реализации новой унифицированной методологии моделирования неисправностей и построения тестовых алгоритмов, что привело к значительному прогрессу в области тестирования наномерных устройств и систем памяти на кристалле
Description
Ե.13.04 «Հաշվողական մեքենաների, համալիրների, համակարգերի և ցանցերի մաթեմատիկական և ծրագրային ապահովում» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների դոկտորի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2018 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական խորհրդատու՝ Ս. Կ. Շուքուրյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Հ. Հ. Հարությունյան, Հ. Յ. Վունդերլին, Ռ. Ռ. Ուբար ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Տեղեկատվական տեխնոլոգիաներ և միկրոէլեկտրոնիկա՝ ինտեգրացված համակարգերի ճարտարապետության համար» լաբորատորիա (Գրենոբլ, Ֆրանսիա) ; Ստենախոսություն՝ 247 էջ, սեղմագիր՝ 38 էջ։
Keywords
Ինֆորմատիկա և համակարգչային համակարգեր / Informatics & Computer Systems