Built-in test solutions for nanoscale memory devices and systems / Ներկառուցված թեստային լուծումներ նանոչափական հիշող սարքերի և համակարգերի համար
Built-in test solutions for nanoscale memory devices and systems / Ներկառուցված թեստային լուծումներ նանոչափական հիշող սարքերի և համակարգերի համար
| dc.contributor.author | Հարությունյան, Գուրգեն Էդիկի / Harutyunyan Gurgen | |
| dc.date.accessioned | 2022-12-14T05:34:37Z | |
| dc.date.available | 2022-12-14T05:34:37Z | |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.description | Ե.13.04 «Հաշվողական մեքենաների, համալիրների, համակարգերի և ցանցերի մաթեմատիկական և ծրագրային ապահովում» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների դոկտորի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2018 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Երևանի պետական համալսարանում ; Գիտական խորհրդատու՝ Ս. Կ. Շուքուրյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Հ. Հ. Հարությունյան, Հ. Յ. Վունդերլին, Ռ. Ռ. Ուբար ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Տեղեկատվական տեխնոլոգիաներ և միկրոէլեկտրոնիկա՝ ինտեգրացված համակարգերի ճարտարապետության համար» լաբորատորիա (Գրենոբլ, Ֆրանսիա) ; Ստենախոսություն՝ 247 էջ, սեղմագիր՝ 38 էջ։ | |
| dc.description.abstract | The thesis is dedicated to development and its software and hardware implementation of a new unified methodology for fault modeling and test algorithm construction which led to essential progress in area of testing of nanoscale memory devices and systems /Նանոչափական հիշող սարքերի չափերի աննախադեպ փոքրացումը բերում է նախագծման էական բարդությունների, և դրան զուգընթաց էական առաջխաղացում են ապրում ներդրված թեստավորման և նորոգման լուծումներին ներկայացվող պահանջները նանոչափական բյուրեղների (չիպերի) բարձր արտադրողականություն և որակ ապահովելու համար / Диссертация посвящена разработке и програмно-аппаратной реализации новой унифицированной методологии моделирования неисправностей и построения тестовых алгоритмов, что привело к значительному прогрессу в области тестирования наномерных устройств и систем памяти на кристалле | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nla.am/handle/123456789/672 | |
| dc.language.iso | eng | |
| dc.pages | Ստենախոսություն՝ 247 էջ, սեղմագիր՝ 38 էջ։ | |
| dc.publication.place | Երևան | |
| dc.publisher | ՀՀ ԳԱԱ ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտ | |
| dc.subject | Ինֆորմատիկա և համակարգչային համակարգեր / Informatics & Computer Systems | |
| dc.title | Built-in test solutions for nanoscale memory devices and systems / Ներկառուցված թեստային լուծումներ նանոչափական հիշող սարքերի և համակարգերի համար | |
| dc.type | Thesis | |
| dc.type | Abstract | |
| eperson.lastname | LS |
Files
License bundle
1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
- Name:
- license.txt
- Size:
- 1.71 KB
- Format:
- Item-specific license agreed to upon submission
- Description: