Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара / Արտաքին գործոնների ազդեցության տակ կիսահաղորդչային բյուրեղներում առաջացած խանգարումների հետազոտությունը ռենգենադիֆրակցիոն մուարի եղանակով
Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара / Արտաքին գործոնների ազդեցության տակ կիսահաղորդչային բյուրեղներում առաջացած խանգարումների հետազոտությունը ռենգենադիֆրակցիոն մուարի եղանակով
| dc.contributor.author | Արշակյան, Էդուարդ Զավենի / Arshakyan Eduard | |
| dc.date.accessioned | 2024-04-23T09:49:10Z | |
| dc.date.available | 2024-04-23T09:49:10Z | |
| dc.date.issued | 2001 | |
| dc.description | Ե.16.01 «Նյութագիտություն և կոմպոզիցիոն նյութեր» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2001 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ա. Հ. Աբոյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Լ. Ե. Սարգսյան, Մ. Ա. Նավասարդյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Լեռնամետալուրգիական ինստիտուտ» ՓԲԸ ; Սեղմագիր՝ 22 էջ։ | |
| dc.description.abstract | Актуальность темы определяется необходимостью исследования физических свойств полупроводниковых кристаллов, подвергаемых действию постоянных электрических и магнитных полей / Ատենախոսությունը նվիրված Է սիլիցիումի միաբյուրեղից պատրաստված ռենտգենյան ինտերֆերոմետրերի միջոցով հաստատուն էլեկտրական և մագնիսական դաշտերի, ինչպես նաև թափանցող ճառագայթման հետևանքով առաջացած կառուցվածքային խանգարումների ուսումնասիրմանը | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nla.am/handle/123456789/10190 | |
| dc.language.iso | rus | |
| dc.pages | Սեղմագիր՝ 22 էջ | |
| dc.publication.place | Երևան | |
| dc.publisher | Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան | |
| dc.subject | Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology | |
| dc.title | Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара / Արտաքին գործոնների ազդեցության տակ կիսահաղորդչային բյուրեղներում առաջացած խանգարումների հետազոտությունը ռենգենադիֆրակցիոն մուարի եղանակով | |
| dc.type | Abstract | |
| eperson.lastname | GM |