Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара / Արտաքին գործոնների ազդեցության տակ կիսահաղորդչային բյուրեղներում առաջացած խանգարումների հետազոտությունը ռենգենադիֆրակցիոն մուարի եղանակով
Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара / Արտաքին գործոնների ազդեցության տակ կիսահաղորդչային բյուրեղներում առաջացած խանգարումների հետազոտությունը ռենգենադիֆրակցիոն մուարի եղանակով
No Thumbnail Available
Date
2001
Authors
Արշակյան, Էդուարդ Զավենի / Arshakyan Eduard
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարան
Abstract
Актуальность темы определяется необходимостью исследования физических свойств полупроводниковых кристаллов, подвергаемых действию постоянных электрических и магнитных полей / Ատենախոսությունը նվիրված Է սիլիցիումի միաբյուրեղից պատրաստված ռենտգենյան ինտերֆերոմետրերի միջոցով հաստատուն էլեկտրական և մագնիսական դաշտերի, ինչպես նաև թափանցող ճառագայթման հետևանքով առաջացած կառուցվածքային խանգարումների ուսումնասիրմանը
Description
Ե.16.01 «Նյութագիտություն և կոմպոզիցիոն նյութեր» մասնագիտությամբ տեխնիկական գիտությունների թեկնածուի գիտական աստիճանի հայցման ատենախոսություն ; Երևան-2001 ; Ատենախոսության թեման հաստատվել է Հայաստանի պետական ճարտարագիտական համալսարանում ; Գիտական ղեկավար՝ Ա. Հ. Աբոյան ; Պաշտոնական ընդդիմախոսներ՝ Լ. Ե. Սարգսյան, Մ. Ա. Նավասարդյան ; Առաջատար կազմակերպություն՝ «Լեռնամետալուրգիական ինստիտուտ» ՓԲԸ ; Սեղմագիր՝ 22 էջ։
Keywords
Տեխնիկական գիտություններ / Engineering & Technology